基本介紹
| 彼得·B·赫希爵士 Sir Peter B. Hirsch | |
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| 出生 | 1925年1月16日 柏林 |
| 母校 | 劍橋大學(xué) |
| 知名于 | 透射電子顯微鏡 物理學(xué) |
| 獎(jiǎng)項(xiàng) | 富蘭克林獎(jiǎng)?wù)?1970) 沃爾夫物理學(xué)獎(jiǎng)(1983/4) 俄羅斯科學(xué)院羅蒙諾索夫金質(zhì)獎(jiǎng)?wù)?2005)
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| 科學(xué)生涯 | |
| 研究領(lǐng)域 | 材料科學(xué) |
| 機(jī)構(gòu) | 牛津大學(xué) |
彼得·B·赫希爵士FRS（英語：SirPeter Bernhard Hirsch，1925年1月16日－），英國材料科學(xué)家，對(duì)電子顯微鏡的發(fā)展作出了根本性貢獻(xiàn)。
生平
爵士畢業(yè)于Sloane School以及劍橋大學(xué)圣凱瑟琳學(xué)院。1946年他加入卡文迪許實(shí)驗(yàn)室的晶體部門。后來，他對(duì)于煤炭結(jié)構(gòu)的分析做出了重要貢獻(xiàn)。
在1950年代他創(chuàng)新地將透射電子顯微鏡(TEM)應(yīng)用于金屬，發(fā)展了詳細(xì)的掃描技術(shù)理論。在1965年他和Archibald Howie, M.J. Whelan, Pashley and Nicholson,發(fā)表了晶體電子顯微的文章。
后來赫希在牛津大學(xué)人任講席教授，1992年退休。他創(chuàng)建了牛津大學(xué)的材料科學(xué)系。
因?yàn)樗龠M(jìn)電子顯微鏡的發(fā)展，以研究晶體物質(zhì)的結(jié)構(gòu)，赫希1983年獲沃爾夫物理學(xué)獎(jiǎng)。1963年當(dāng)選皇家學(xué)會(huì)院士，1975年封為騎士。赫希也是牛津大學(xué)圣艾德蒙學(xué)堂成員之一。
相關(guān)術(shù)語
透射電子顯微鏡
透射電子顯微鏡（英語：Transmission electron microscope，縮寫：TEM、CTEM），簡稱透射電鏡，是把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關(guān)，因此可以形成明暗不同的影像，影像將在放大、聚焦后在成像器件（如熒光屏、膠片、以及感光耦合組件）上顯示出來。
由于電子的德布羅意波長非常短，透射電子顯微鏡的分辨率比光學(xué)顯微鏡高的很多，可以達(dá)到0.1～0.2nm，放大倍數(shù)為幾萬～百萬倍。因此，使用透射電子顯微鏡可以用于觀察樣品的精細(xì)結(jié)構(gòu)，甚至可以用于觀察僅僅一列原子的結(jié)構(gòu)，比光學(xué)顯微鏡所能夠觀察到的最小的結(jié)構(gòu)小數(shù)萬倍。TEM在中和物理學(xué)和生物學(xué)相關(guān)的許多科學(xué)領(lǐng)域都是重要的分析方法，如癌癥研究、病毒學(xué)、材料科學(xué)、以及納米技術(shù)、半導(dǎo)體研究等等。
在放大倍數(shù)較低的時(shí)候，TEM成像的對(duì)比度主要是由于材料不同的厚度和成分造成對(duì)電子的吸收不同而造成的。而當(dāng)放大率倍數(shù)較高的時(shí)候，復(fù)雜的波動(dòng)作用會(huì)造成成像的亮度的不同，因此需要專業(yè)知識(shí)來對(duì)所得到的像進(jìn)行分析。通過使用TEM不同的模式，可以通過物質(zhì)的化學(xué)特性、晶體方向、電子結(jié)構(gòu)、樣品造成的電子相移以及通常的對(duì)電子吸收對(duì)樣品成像。
第一臺(tái)TEM由馬克斯·克諾爾和恩斯特·魯斯卡在1931年研制，這個(gè)研究組于1933年研制了第一臺(tái)分辨率超過可見光的TEM，而第一臺(tái)商用TEM于1939年研制成功。
電子顯微鏡
電子顯微鏡（英語：electron microscope，簡稱電鏡或電顯）是使用電子來展示物件的內(nèi)部或表面的顯微鏡。
高速的電子的波長比可見光的波長短（波粒二象性），而顯微鏡的分辨率受其使用的波長的限制，因此電子顯微鏡的分辨率（約0.2納米）遠(yuǎn)高于光學(xué)顯微鏡的分辨率（約200納米）。
