王文叢，男，70年代生人�，F(xiàn)任廣州凱樂軟件技術(shù)有限公司首席技術(shù)官、培訓(xùn)講師。多年從事軟件過程改進(jìn)及軟件測(cè)試技術(shù)的實(shí)踐、研究和教學(xué)，尤其對(duì)C/C++單元測(cè)試技術(shù)及客戶需求有深透的見解；是國(guó)內(nèi)單元測(cè)試領(lǐng)域資深的專家、講師。課程代表作《C/C++單元測(cè)試培訓(xùn)》。

課程代表作：《C/C++單元測(cè)試培訓(xùn)》

內(nèi)容大綱：

1、理論基礎(chǔ)(2課時(shí))

1.1、單元測(cè)試的基本概念。

1.2、代碼特性與單元測(cè)試。

1.3、單元測(cè)試方法：廣義單元測(cè)試與狹義單元測(cè)試方法，及其優(yōu)缺點(diǎn)。

1.4、動(dòng)態(tài)測(cè)試的基本方法。

1.5、測(cè)試代碼：測(cè)試代碼的構(gòu)成與編寫。

1.6、練習(xí)：純手工編寫測(cè)試代碼，測(cè)試簡(jiǎn)單獨(dú)立的函數(shù)。

1.7、揚(yáng)其長(zhǎng)避其短：?jiǎn)卧獪y(cè)試的優(yōu)勢(shì)與不足。

1.8、單元測(cè)試標(biāo)的：該做什么與不該做什么。

1.9、單元測(cè)試的肥肉與骨頭。

2、理論進(jìn)階(2課時(shí))

2.1、打樁技術(shù)：打樁的意義、方法及減少打樁工作的思路。

2.2、白盒測(cè)試與黑盒測(cè)試：基本概念、常見誤區(qū)。

2.3、白盒覆蓋

2.3.1、概念。

2.3.2、MC/DC覆蓋。

2.3.3、路徑覆蓋。

2.3.4、白盒覆蓋的價(jià)值、局限性與應(yīng)用。

2.4、插裝技術(shù)：統(tǒng)計(jì)覆蓋率、監(jiān)視數(shù)據(jù)的方法。

2.5、用例自動(dòng)設(shè)計(jì)技術(shù)：原理、方法、局限性與誤區(qū)、應(yīng)用。

3、測(cè)試用例(2課時(shí))

3.1測(cè)試用例的構(gòu)成。

3.2 幾種測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法介紹簡(jiǎn)介

3.2.1、邊界值法。

3.2.2、基路徑法。

3.2.3、等價(jià)類法。

3.3 實(shí)用用例設(shè)計(jì)方法：功能+覆蓋法。

3.3.1功能：從開發(fā)角度記錄功能點(diǎn)形成用例。

3.3.2覆蓋：利用白盒覆蓋找出遺漏用例。

3.4 程序員測(cè)試的不足與彌補(bǔ)。

4、測(cè)試難點(diǎn)與解決思路(2課時(shí))

4.1、測(cè)試實(shí)際項(xiàng)目與測(cè)試簡(jiǎn)單獨(dú)立函數(shù)的差別。

4.2、獨(dú)立運(yùn)行：隔離測(cè)試任務(wù)。

4.3、覆蓋輸入。

4.4、內(nèi)部輸入原理。

4.5、內(nèi)部輸入的六種情形。

4.6、編寫樁代碼解決內(nèi)部輸入。

4.7、底層模擬解決內(nèi)部輸入。

4.8、如何保證測(cè)試效果：常見誤區(qū)、可行的方法。

4.9、測(cè)試效率：效率決定成敗，提升效率的思路與方法。

5、工具一：CppUnit(2課時(shí))

5.1、安裝、編譯、建立測(cè)試工程、編寫測(cè)試代碼。

5.2、練習(xí)：使用CppUnit測(cè)試簡(jiǎn)單獨(dú)立函數(shù)。

5.3、CppUnit進(jìn)階：改進(jìn)CppUnit，減少工作量，及解決打樁造成的失真。

6、工具二：C++TEST(2課時(shí))

6.1 、C++TEST介紹。

6.2、C++TEST的基本使用。

7、工具三：Visual Unit(2課時(shí))

7.1、Visual Unit 介紹。

7.2、Visual Unit的基本使用。

8、改進(jìn)開發(fā)過程(2課時(shí))

8.1、TDD(測(cè)試驅(qū)動(dòng)開發(fā))。

8.1.1、TDD概念與優(yōu)勢(shì)

8.1.2、TDD過程。

8.1.3、TDD原則。

8.1.4、TDD的不足。

8.2 ETDD(Easy TDD，易行版TDD)

8.2.1、ETDD概述。

8.2.2、ETDD過程。

8.2.3、練習(xí)：使用ETDD開發(fā)。