人物經(jīng)歷
教育背景
1988年9月至1992年7月 天津大學 自動化系 獲工業(yè)自動化專業(yè)和經(jīng)濟學專業(yè)雙學士學位。
1992年9月至1995年3月 天津大學 自動化系 獲工業(yè)自動化專業(yè)碩士學位。
2000年9月至2005年12月 清華大學 自動化系在職攻讀博士 獲工學博士學位。
工作履歷
2004年4月至2004年10月 美國麻省理工學院 電氣與計算機科學系 訪問學者。
1995年4月至今 清華大學 自動化系 任教。
1995年4月至1997年7月 清華大學 自動化系 助教。
1997年7月至2006年12月 清華大學 自動化系 講師。
2006年12月至今 清華大學 自動化系 副教授。
研究方向
[1] 電子電路可靠性設(shè)計。
數(shù)字、模擬電路設(shè)計，魯棒性電路系統(tǒng)設(shè)計。
[2] 電子系統(tǒng)和設(shè)備的測試與故障診斷。
測試技術(shù)，測試理論和自動測試設(shè)備。
[3] 儀器儀表技術(shù)。
高精度儀器儀表設(shè)計，工業(yè)級測量儀器。
主要貢獻
學術(shù)兼職
華北電子技術(shù)教學研究會 理事。
中國計算機學會容錯計算專業(yè)委員會委員。
學術(shù)成果
[1] 胡庚，王紅，楊士元. 非線性模擬電路的故障診斷方法. 計算機輔助設(shè)計與圖形學報，2009, Vol.21,No.1,1-5。
[2] Hu Geng, Wang Hong, Yang Shiyuan. Combined Self-Test of Analog Portion and ADCs in Integrated Mixed-Signal Circuits. IEICE Trans. on Information and System, 2008, Vol.E91_D, No.8, August,2134-2140。
[3] 胡梅，王紅，楊士元，胡庚. 基于電壓增量的非線性模擬電路軟故障診斷. 系統(tǒng)工程與電子技術(shù), 2008, Vol.30, No.2,379-383 Reliability, 46(2006), p1199-1208。
[4] 成本茂，王紅，楊士元，牛道恒，靳洋. 基于可測性分析的高層次寄存器分配算法.東南大學學報（自然科學版）2008, Vol.38, No.3, 396-400。
[5] 牛道恒，王紅，楊士元. 序列對遞增生成的SOC測試調(diào)度算法. 北京郵電大學學報, 2007, 10, Vol.30, No.5,19-23。
[6] Niu Daoheng, Wang Hong, Yang Shiyuan. Relation-Matrix approach for sequence pair decoding. Journal of Information and Computational Science, 2007, 7, Vol.4, No.2,643-650。
[7] Niu Daoheng, Wang Hong, Yang Shiyuan. Re-Optimization Algorithm for SoC Wrapper-Chain Balance Using Mean-Value Approximation. Tsinghua Science and Technology, Vol.12, No.S1, July 2007,61-66。
[8] Hu Mei, Wang Hong, Hu Geng, Yang Shiyuan. Soft Fault Diagnosis for Analog Circuits Based on Slope Fault Feature and BP Neural Networks. Tsinghua Science and Technology, Vol.12, No.S1, July 2007,26-31。
[9] 邢建輝，王紅，楊士元，成本茂. 構(gòu)造SoC級透明路徑的0-1規(guī)劃方法.清華大學學報（自然科學版），2007,01,Vol.47,No.1，147-149,153。
[10] 王紅，成本茂，楊士元. 一種非同步時序電路的測試生成方案. 電子科技大學學報，2007,Vo1.36,No.4, 733-736。
[11] Xing Jian-hui, Wang Hong, Yang Shi-yuan. Constructing Transparency Paths for IP Cores Using Greedy Search. Microelectronics Reliability，2006, Vol.46, No.7, 1199-1208。
[12] 吳超, 王紅, 楊士元. SoC測試集成的研究環(huán)境構(gòu)建. 計算機輔助設(shè)計與圖形學學報，2006, Vo1.18,No.7, 988-993。
[13] 吳超，王紅，楊士元. 基于復(fù)用的SOC測試集成和IEEE P1500標準. 微電子學，2005，35(3), 240-245。
[14] Wang Hong, Xing Jian-hui,Yang Shi-yuan. A Test generation Approach For Non-Synchronous Sequential Circuit. In Proc. Of 7th Electronic Measurement & Instruments，2005, Vol.1, 475-480。
[15] Xing Jian-hui, Wang Hong, Yang Shi-yuan. Constructing Transparency Paths for IP Cores Using Greedy Searching Strategy. In Proc.of IEEE Asian Test Symposium, Taiwan, Nov. 2004, 14-19。
[16] 王紅，邢建輝，楊士元. 基于復(fù)用的SOC測試技術(shù).半導(dǎo)體技術(shù)，2004，29(5), 49-51。
[17] Xing Jian-hui, Wang Hong, Yang Shi-yuan. On Measuring the Transparentability of Cores in Core-based ICs. In Proc.of 5th International Conference on ASIC, April. 2003, 1145-1150。
[18] 王紅，邢建輝，楊士元. 基于復(fù)用的SOC測試技術(shù). 半導(dǎo)體技術(shù)，Vol.29, No.5,pp49-51。
[19] 薛月菊，王紅，楊士元等. 數(shù)字電路的層次化測試生成新趨勢. 哈爾濱工業(yè)大學學報，2003，Vol.35, No.11, 1281-1284。
