人物經(jīng)歷
教育背景
1988年9月至1992年7月 天津大學(xué) 自動化系 獲工業(yè)自動化專業(yè)和經(jīng)濟學(xué)專業(yè)雙學(xué)士學(xué)位。
1992年9月至1995年3月 天津大學(xué) 自動化系 獲工業(yè)自動化專業(yè)碩士學(xué)位。
2000年9月至2005年12月 清華大學(xué) 自動化系在職攻讀博士 獲工學(xué)博士學(xué)位。
工作履歷
2004年4月至2004年10月 美國麻省理工學(xué)院 電氣與計算機科學(xué)系 訪問學(xué)者。
1995年4月至今 清華大學(xué) 自動化系 任教。
1995年4月至1997年7月 清華大學(xué) 自動化系 助教。
1997年7月至2006年12月 清華大學(xué) 自動化系 講師。
2006年12月至今 清華大學(xué) 自動化系 副教授。
研究方向
[1] 電子電路可靠性設(shè)計。
數(shù)字、模擬電路設(shè)計，魯棒性電路系統(tǒng)設(shè)計。
[2] 電子系統(tǒng)和設(shè)備的測試與故障診斷。
測試技術(shù)，測試理論和自動測試設(shè)備。
[3] 儀器儀表技術(shù)。
高精度儀器儀表設(shè)計，工業(yè)級測量儀器。
主要貢獻
學(xué)術(shù)兼職
華北電子技術(shù)教學(xué)研究會 理事。
中國計算機學(xué)會容錯計算專業(yè)委員會委員。
學(xué)術(shù)成果
[1] 胡庚，王紅，楊士元. 非線性模擬電路的故障診斷方法. 計算機輔助設(shè)計與圖形學(xué)報，2009, Vol.21,No.1,1-5。
[2] Hu Geng, Wang Hong, Yang Shiyuan. Combined Self-Test of Analog Portion and ADCs in Integrated Mixed-Signal Circuits. IEICE Trans. on Information and System, 2008, Vol.E91_D, No.8, August,2134-2140。
[3] 胡梅，王紅，楊士元，胡庚. 基于電壓增量的非線性模擬電路軟故障診斷. 系統(tǒng)工程與電子技術(shù), 2008, Vol.30, No.2,379-383 Reliability, 46(2006), p1199-1208。
[4] 成本茂，王紅，楊士元，牛道恒，靳洋. 基于可測性分析的高層次寄存器分配算法.東南大學(xué)學(xué)報（自然科學(xué)版）2008, Vol.38, No.3, 396-400。
[5] 牛道恒，王紅，楊士元. 序列對遞增生成的SOC測試調(diào)度算法. 北京郵電大學(xué)學(xué)報, 2007, 10, Vol.30, No.5,19-23。
[6] Niu Daoheng, Wang Hong, Yang Shiyuan. Relation-Matrix approach for sequence pair decoding. Journal of Information and Computational Science, 2007, 7, Vol.4, No.2,643-650。
[7] Niu Daoheng, Wang Hong, Yang Shiyuan. Re-Optimization Algorithm for SoC Wrapper-Chain Balance Using Mean-Value Approximation. Tsinghua Science and Technology, Vol.12, No.S1, July 2007,61-66。
[8] Hu Mei, Wang Hong, Hu Geng, Yang Shiyuan. Soft Fault Diagnosis for Analog Circuits Based on Slope Fault Feature and BP Neural Networks. Tsinghua Science and Technology, Vol.12, No.S1, July 2007,26-31。
[9] 邢建輝，王紅，楊士元，成本茂. 構(gòu)造SoC級透明路徑的0-1規(guī)劃方法.清華大學(xué)學(xué)報（自然科學(xué)版），2007,01,Vol.47,No.1，147-149,153。
[10] 王紅，成本茂，楊士元. 一種非同步時序電路的測試生成方案. 電子科技大學(xué)學(xué)報，2007,Vo1.36,No.4, 733-736。
[11] Xing Jian-hui, Wang Hong, Yang Shi-yuan. Constructing Transparency Paths for IP Cores Using Greedy Search. Microelectronics Reliability，2006, Vol.46, No.7, 1199-1208。
[12] 吳超, 王紅, 楊士元. SoC測試集成的研究環(huán)境構(gòu)建. 計算機輔助設(shè)計與圖形學(xué)學(xué)報，2006, Vo1.18,No.7, 988-993。
[13] 吳超，王紅，楊士元. 基于復(fù)用的SOC測試集成和IEEE P1500標準. 微電子學(xué)，2005，35(3), 240-245。
[14] Wang Hong, Xing Jian-hui,Yang Shi-yuan. A Test generation Approach For Non-Synchronous Sequential Circuit. In Proc. Of 7th Electronic Measurement & Instruments，2005, Vol.1, 475-480。
[15] Xing Jian-hui, Wang Hong, Yang Shi-yuan. Constructing Transparency Paths for IP Cores Using Greedy Searching Strategy. In Proc.of IEEE Asian Test Symposium, Taiwan, Nov. 2004, 14-19。
[16] 王紅，邢建輝，楊士元. 基于復(fù)用的SOC測試技術(shù).半導(dǎo)體技術(shù)，2004，29(5), 49-51。
[17] Xing Jian-hui, Wang Hong, Yang Shi-yuan. On Measuring the Transparentability of Cores in Core-based ICs. In Proc.of 5th International Conference on ASIC, April. 2003, 1145-1150。
[18] 王紅，邢建輝，楊士元. 基于復(fù)用的SOC測試技術(shù). 半導(dǎo)體技術(shù)，Vol.29, No.5,pp49-51。
[19] 薛月菊，王紅，楊士元等. 數(shù)字電路的層次化測試生成新趨勢. 哈爾濱工業(yè)大學(xué)學(xué)報，2003，Vol.35, No.11, 1281-1284。
