1988年7月本科畢業(yè)于電子科技大學(xué)電子材料與元器件系，獲得學(xué)士學(xué)位；1991年3月畢業(yè)于電子科技大學(xué)微電子與固體電子學(xué)院，獲得碩士學(xué)位并留校任教。

主要從事掃描電子顯微鏡、X-射線熒光光譜和掃描探針顯微鏡SPM(包括掃描隧道顯微鏡STM、原子力顯微鏡AFM、磁力顯微鏡MFM、電力顯微鏡EFM等)的測(cè)試方法研究以及材料與元器件分析表征等科研工作。

主要研究方向?yàn)殡娮颖∧づc集成器件的表、界面微區(qū)電磁性能表征。

作為課題副組長和主研人員先后參與國家重大基礎(chǔ)研究項(xiàng)目和國防科工委預(yù)研課題多項(xiàng)。

在國內(nèi)外學(xué)術(shù)刊物及國際學(xué)術(shù)會(huì)議發(fā)表論文30余篇，論文被SCI、EI收錄15篇。

參加編寫《論表面分析及其在材料研究中的應(yīng)用》(科學(xué)技術(shù)文獻(xiàn)出版社，2002)和《材料微觀分析實(shí)驗(yàn)技術(shù)》(電子科技大學(xué)出版社)。

已獲得授權(quán)的國家發(fā)明專利3項(xiàng)。

承擔(dān)研究生學(xué)位課程《現(xiàn)代材料分析技術(shù)》、《材料分析實(shí)驗(yàn)技術(shù)》和本科生《材料分析基礎(chǔ)》的課堂教學(xué)及實(shí)驗(yàn)。