基本內(nèi)容
1985年4月至1986年11月公派赴美國KEYTECH公司進(jìn)行科技合作,多次率考察團(tuán)赴美國、日本、俄羅斯、烏克蘭、白俄羅斯、香港和歐洲考察。學(xué)術(shù)兼職有中國電子學(xué)會(huì)電子儀器專業(yè)委員會(huì)常委,自動(dòng)測試與控制分會(huì)主任委員,中國計(jì)量學(xué)會(huì)計(jì)量測試專業(yè)委員會(huì)委員,中國計(jì)算機(jī)學(xué)會(huì)容錯(cuò)計(jì)算專業(yè)委員會(huì)委員,全國ICCAT專家委員會(huì)委員,全國工科電子類教學(xué)指導(dǎo)委員會(huì)電子測試技術(shù)委員會(huì)主任委員,多所大學(xué)兼職教授等。 多年來,在現(xiàn)代測試?yán)碚摗⒂?jì)算機(jī)輔助測試(CAT)、數(shù)據(jù)域測試、VLSI測試?yán)碚摷胺椒ā⒐收显\斷技術(shù)與可測性設(shè)計(jì)、專家系統(tǒng)以及測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)體系(VXI)等進(jìn)行了卓有成效的研究工作,曾擔(dān)任“VLSI測試?yán)碚撆c方法”課題“八五”國家攻關(guān)組組長。共完成國家及部省級(jí)科研項(xiàng)目26項(xiàng),其中15項(xiàng)獲國防科工委、部省級(jí)科技進(jìn)步獎(jiǎng)。編寫出版專著和教材8部,“數(shù)據(jù)域測試及儀器(第二版)”1995年獲全國電子類優(yōu)秀教材一等獎(jiǎng),公開發(fā)表學(xué)術(shù)論文100余篇,多篇論文被國際檢索機(jī)構(gòu)檢索。 已培養(yǎng)博士17名,碩士50余名。目前,在讀博士研究生19名,碩士研究生15名。