1985年4月至1986年11月公派赴美國KEYTECH公司進行科技合作,多次率考察團赴美國、日本、俄羅斯、烏克蘭、白俄羅斯、香港和歐洲考察。學(xué)術(shù)兼職有中國電子學(xué)會電子儀器專業(yè)委員會常委，自動測試與控制分會主任委員，中國計量學(xué)會計量測試專業(yè)委員會委員，中國計算機學(xué)會容錯計算專業(yè)委員會委員，全國ICCAT專家委員會委員，全國工科電子類教學(xué)指導(dǎo)委員會電子測試技術(shù)委員會主任委員，多所大學(xué)兼職教授等。 多年來，在現(xiàn)代測試理論、計算機輔助測試(CAT)、數(shù)據(jù)域測試、VLSI測試理論及方法、故障診斷技術(shù)與可測性設(shè)計、專家系統(tǒng)以及測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)體系(VXI)等進行了卓有成效的研究工作，曾擔任“VLSI測試理論與方法”課題“八五”國家攻關(guān)組組長。共完成國家及部省級科研項目26項，其中15項獲國防科工委、部省級科技進步獎。編寫出版專著和教材8部，“數(shù)據(jù)域測試及儀器(第二版)”1995年獲全國電子類優(yōu)秀教材一等獎，公開發(fā)表學(xué)術(shù)論文100余篇，多篇論文被國際檢索機構(gòu)檢索。 已培養(yǎng)博士17名，碩士50余名。目前，在讀博士研究生19名，碩士研究生15名。