陳杰智，博士畢業(yè)于日本東京大學，曾在日本東芝研究開發(fā)中心任研究員（Research Scientist）�，F(xiàn)為山東大學信息科學與工程學院教師。

主要從事納米尺寸晶體管和非揮發(fā)型固態(tài)存儲器可靠性物理機制的研究及其應(yīng)用，其成果發(fā)表在了EDL，IEDM，VLSI Symposia等重要國際學術(shù)期刊和頂級國際電子器件學術(shù)峰會上，并作為第一發(fā)明人申請了多項國際專利。