基本內(nèi)容
用各種真空表面分析技術(shù),包括電子譜儀(AES, EELS, HREELS, LEED),光電子能譜儀(XPS, UPS, and Synchrotron Beam), 離子譜儀(ISS and SIMS), 掃描隧道顯微鏡(STM),程序升溫脫附譜(TPD)等,對各種固體材料進(jìn)行表面物理和表面化學(xué)的研究工作。研究內(nèi)容涉及表面分散,表面組成和結(jié)構(gòu),材料的電子結(jié)構(gòu),表面吸附及脫附,催化過程和催化機(jī)理,原子、分子與固體表面的相互作用,納米薄膜制備等。近年來,重點開展各種有序氧化物薄膜的研制和對小分子(如CO、H2O)的吸附研究工作。
主要課題集中在有序氧化物薄膜的研制以及分子、原子與固體表面的相互作用上。